Kompleksowy system testowania pamięci Flash Komora przyspieszonego starzenia w wysokich i niskich temperaturach

Specyfikacja produktu

Inteligentny system testowy układu pamięci Flash HD-512-NAND to kompleksowy system testowania pamięci flash, który może dostosować plan testów i wspierać równoległe testowanie różnych typów cząstek pamięci flash.64 typy, maksymalna liczba cząstek pamięci flash w testach równoległych może osiągnąć 512.

Inteligentny system testowy układu pamięci Flash YC-512-NAND obsługuje wiele wzorców testowych i niestandardowych funkcji parametrów testowych i może zapewnić podstawowy proces testowy jednym kliknięciem i proces testowy wysokiego poziomu z dużą elastycznością, nie tylko może zrealizować pozostałą żywotność pamięci flash cząstki, rzeczywiste pomiary, zatrzymywanie danych i zakłócenia odczytu oraz inne testy funkcjonalne mogą również pomóc użytkownikom zweryfikować stan niezawodności cząsteczek pamięci flash.Po zakończeniu testu raport z testu można łatwo i szybko wyeksportować za pomocą jednego przycisku, zapewniając klientom najbardziej intuicyjne i dokładne graficzne dane testowe.Zapewnij najbardziej intuicyjne odniesienie do danych do klasyfikacji klas i zastosowań cząstek pamięci flash oraz realizuj inteligentną klasyfikację w oparciu o wyniki kontroli jakości cząstek pamięci flash.

※ Podstawa testu jest zgodna ze stanowiskiem JEDEC nr 218: Solid State Technology Association B-2016 Wymagania i test wytrzymałości dysku półprzewodnikowego (SSD) Motho;

※ Podstawa testu jest zgodna z normą JEDEC nr 47 NVCE: Solid State Technology Association Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits;

※ Specyfikacje projektowe płyty testowej spełniają wymagania przemysłowego środowiska testowego;